美國國家標準與技術(shù)研究所（NIST）的兩種新標準參考材料為研究人員和制造商提供了一種方法來檢查測量微觀粒子電荷的儀器的性能。 SRM 是應(yīng)行業(yè)要求在 NIST 與比利時歐盟委員會聯(lián)合研究中心之間的獨特合作中開發(fā)的。
標準參考物質(zhì) SRM 1992 和SRM 1993 有助于確保使用電泳光散射和電聲儀器進行測量的準確性。前一種技術(shù)使用外加電場中運動粒子散射的光來測量它們的速度；后者應(yīng)用高頻電場或聲場來產(chǎn)生粒子振動，然后測量產(chǎn)生的聲信號或電流。這些結(jié)果允許計算電泳遷移率、粒子相對于施加電場強度的速度以及 Zeta 電位，即粒子表面附近的電位。這些參考材料是第一個證明 Zeta 電位值的參考材料，Zeta 電位用于許多依賴微觀粒子的行業(yè)。
例如，Zeta 電位被認為是納米粒子是否可能保持均勻分散在流體中或聚集成團塊從而阻礙其性能或?qū)】岛铜h(huán)境構(gòu)成威脅的關(guān)鍵指標。納米顆粒被用作藥物輸送系統(tǒng)（例如，在最近發(fā)布的針對 COVID-19 的 mRNA 疫苗中）、抗生素涂層、顏料、紡織品和許多消費品，以及其他應(yīng)用。
SRM 1992 和SRM 1993 由懸浮在水溶液中的膠體二氧化硅顆粒組成。 SRM 1992 是光散射方法的理想選擇，而 SRM 1993 具有更高的顆粒濃度，適用于電聲儀器的校準。它們可從 NIST 和聯(lián)合研究中心作為 ERM-FD305 和 ERM-FD306 獲得。
陳經(jīng)理（銷售）
